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产地：美国
主要特点：
1) EX-6600 SDD 为您提供了最{dj0}的灵敏度和选择度。
2) SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。
3) 8 个二次靶为快速jq的定量分析提供了{zd0}程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。wq自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。
4) EX-6600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。
5) 10个位置的自动进样器整体设计允许了{zd1}限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。
6) 该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的fxrj能检测限低。
7) 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供yz的峰与峰的比率。
指标参数：
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测量能力
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测量范围
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C(6)－Fm（100）
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元素含量分析范围
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ppm - {bfb}（在指定应用领域中）
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X光管
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X光源
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Rh – 阳级标准
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X-射线电压
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60kV, 300W
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激发模式
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二次靶激发模式
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稳定性
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室温条件下jq到0.1%
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X光探测器
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探测器
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硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮
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分辨率
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136 eV ± 5eV at 5.9 keV.
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窗口
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Be
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特性
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自动成样
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10个位置
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工作条件
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空气/真空/氦气
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滤光片
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8款可选的软件
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二次靶
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8款可选，Ge,Zr,Si,Ti,Fe,Mo,Sn,Gd.
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电源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
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脉冲加工
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多信道分析
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光学
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专利 WaG ® (广角几何)
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尺寸（L×W×H，cm）
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85×85×105(不含包装)，145×95×135（含包装）
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重量
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170Kg（净重），200Kg(总重)
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样品室尺寸
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直径28cm,高5cm
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电脑
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集成 pc
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软件
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操作软件
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nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及fxrj包外加初级基本参数算法
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控制
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样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制
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光谱处理
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逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告
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定量分析算法
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考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
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报告
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用户可自定的数据报表及打印形式
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